薄膜测厚仪双型膜厚仪 Dual scope MP0R-FP
产品概要
- 小探头式双膜厚仪
- 配备自动底物确定功能
- 测量范围 电磁式/涡流式通用：0 至 2000 µm
- 约1000个数据存储点，统计计算功能
产品信息
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