OP-A2显微分光膜厚仪

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  • OP-A2显微分光膜厚仪
  • OTSUKA大塚
  • OP-A2
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  • 非接触/非破坏/显微方式,测量时间 1秒!

产品详细介绍

OTSUKA大塚显微分光膜厚仪OP-A2

非接触/非破坏/显微方式,测量时间 1秒!

测量目标膜的绝对反射率,实现高精度膜厚和光学常数测试!(分光干涉法)

 

特点:

膜厚测量中必要的功能集中于头部。

通过显微分光高精度测量绝对反射率 (多层膜厚、光学常数 )

1点只需不到1秒的高速tact

实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外—近红外)。

通过区域传感器控制的安全构造。

搭载可私人定制测量顺序的强大功能。

即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数。

各种私人定制对应(固定平台、有嵌入式测试头式样)。

 

根据试料的形状和部位,可轻松定制测量顺序。