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product详细介绍
SANKO山高SWT-NEOII/SWT-NEOIII 双类型膜厚计
高性能型号,具备探头兼容性、内存、统计计算、数据传输等功能。
*专用探头需另行购买。(探头与SWT-9000系列及更早型号不兼容。)
特征
可根据测量目的选择连接探头。
操作步骤显示在液晶屏幕上。
大容量测量值存储器(NEO II:20,000 点,NEO III:40,000 点)。
通过注册校准曲线轻松回忆测量结果
内置上下限设定和统计计算功能。
数据可以通过USB连接传输到电脑。
内置专用低功耗无线输出(NEO-III)。
倾斜支架
用法
喷漆/衬里/电镀
绝缘涂层,例如阳极氧化铝
深圳市京都玉崎电子有限公司
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