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SANKO山高 SM-Pen 电磁模拟薄膜厚度计

SANKO山高 SM-Pen 电磁模拟薄膜厚度计 product

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SANKO山高 SM-Pen 电磁模拟薄膜厚度计

简要描述： SANKO山高 SM-Pen 电磁模拟薄膜厚度计

  • 产品型号：
  • 发布时间：2026-01-30
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详细介绍

SANKO山高  SM-Pen 电磁模拟薄膜厚度计

笔式探头可用于测量小型零件（可定制）。

特征

这种笔式探针的尖端装有超细磁极，

可以测量微小零件和狭窄空间。

 

规格

测量范围
0 至 300 微米 0 至 5 毫米（双线标尺）
测量精度
在均匀表面上精度为±2μm，或为所示值的±5%。
电源
6节AAA电池（1.5V）
工作温度
0 至 40°C（无冷凝）
飞机尺寸
105（宽）× 48（高）× 165（深）毫米
重量
500克
配件
标准厚度表盘、表盘盖、收纳盒
探测
笔型 φ11×130mm，CVD磁极：φ2.6×4.5mm


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