SANKO山高 SWT-NEO-N 涡流薄膜厚度计

简要描述： SANKO山高 SWT-NEO-N 涡流薄膜厚度计

产品展示

product

详细介绍

纤薄易用的数字式

SWT-NEO-N：SWT-NEO+SNFe-2.0

特征

测量范围宽广，为 0 至 2.0 毫米

零点和标准调整可实现即时测量

用法

阳极氧化/喷漆/衬里

测量范围

0 至 2.00 毫米

显示方法

LCD 数字显示屏，保持

显示分辨率

1μm：0 至 999μm
可切换；
0.1μm：0 至 400μm
；0.5μm：400 至 500μm；
0.01mm：1.00 至 2.00mm

测量精度（垂直于平面测量）

对于厚度为 0 至 100 μm 的均匀表面
：±1 μm 或指示值的 ±2%；对于厚度
为 101 μm 至 2.00 mm 的表面：在 ±2% 以内。

校准曲线记忆

×1

电源

2节AA碱性电池（1.5V）连续使用时间（25小时*）
交流适配器（可选）
，带自动关机功能
*最大值（可能因使用情况而异）

工作温度

0 至 40°C（无冷凝）

机器尺寸

72（宽）× 30（高）× 156（深）毫米

重量

约270克（含电池）

配件

标准厚度平板、零点测试平板、干电池、收纳箱、手带、保修卡和用户登记表、使用说明书

探测

单点恒压接触式，V形切口，φ13 x 47 mm

还有功能强大的 SWT-NEO II 型号，它具有内存和统计功能。

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