SANKO山高 电阻薄膜厚度计 RST-231

SANKO山高   电阻薄膜厚度计 RST-231

在短时间内（0.7 秒）对绝缘体上的金属薄膜（铜箔、印刷电路板上的镀层等）进行高精度测量

特征

采用四点探针（开尔文型）。不受背面或内层影响，可测量双面和多层板。

使用屏幕大、易于阅读的电脑。

校准和测量简便。可选择两个量程，可测量厚度为 2 至 120 μm 的金属薄膜。

您最多可以注册 40 个频道，因此您可以按用户名、产品编号等对频道进行分类，从而注册和管理频道。

可以保存每个通道的测量数据，并可为测量数据设置统计项，以便稍后进行统计处理。

通过设定薄膜厚度的上限和下限，可以对异常值进行通知。

规格