SANKO山高 X射线荧光涂层测厚仪 EX-851

简要描述： SANKO山高 X射线荧光涂层测厚仪 EX-851

产品展示

product

详细介绍

SANKO山高 DMC-211型涡流薄膜厚度计

特征
测量单元监视器屏幕显示，被测物体上镀层附着力分布的可视化显示
Windows

软件用于增强报表创建功能
注意：使用本产品需向当地劳动标准监察局报备。

X射线源

油浸式紧凑型微焦点X射线管
靶材：钨
管电压：50 kV/可变管电流

辐照法

顶部垂直照明方法

探测器

比例计数器

可测量范围

原子序数 22-24：0.02 至约 20 μm；
原子序数 25-40：0.02 至约 30 μm；
原子序数 41-51：0.02 至约 70 μm；
原子序数 52-83：0.01 至约 10 μm

样本观测

CCD彩色相机（自动对焦）

桌子尺寸

200×200

测量对象的最大高度

90毫米

机器尺寸

740（宽）x 530（深）x 660（高）

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