SANKO山高   SWT系列专用探头

SANKO山高 SWT系列专用探头 product

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SANKO山高 SWT系列专用探头

简要描述: SANKO山高 SWT系列专用探头

  • 产品型号:
  • 发布时间:2026-02-03

详细介绍

SANKO山高   SWT系列专用探头


 特别功能

主机可配备可互换的独立探头。

根据被测物体的不同,选择适用于铁磁性(电磁式)或非铁磁性(涡流式)基板的探针。

根据应用和测量范围,可以选择高稳定性探头来测量微小物体或类似物体。

SWT(铁探针)规格

模型
SFe-2.5※1/2.5升
SFe-0.6Pen
方法
磁感应型
范围
0~2.50毫米
0~600μm
显示分辨率
1μm:0~999μm,切换至0.1μm:0~400μm,0.5μm:400~500μm,0.01mm:1.00~2.50mm
1μm:0~600μm 切换至 0.1μm:0~400μm 0.5μm:400~500μm
精度(在平面上垂直测试)
0~100μm:±1μm 或读数的±2%;
101μm~2.50mm:±2%
0~100μm:±1μm 或读数的±2%;101μm~600μm:
读数的±2%
探针
单点接触恒压型,
V型切口 2.5:φ15×47mm 2.5L:18×23×67mm
单点接触恒压型,V形切口 φ5.6 x 92.2mm
V型探针适配器※2/非
配件
标准厚度,零号测试板(Fe)
测量物体
在铁、钢等磁性金属基材上进行涂层、衬里、热喷涂膜、电镀(电解镍电镀除外)等处理。
在铁、钢等狭窄/小面积的零件基材上进行涂层、衬里、电镀。
  1. ※1.探头耐热(约200℃)。(SFe-2.5)

  2. ※2.V 型探头适配器(3 种:小于 Φ5、Φ5~10、Φ10~20)可与 SFe-2.5 配合使用。

模型
SFe-10
SFe-20
方法
磁感应型
范围
0~10毫米
0~20毫米
显示分辨率
1μm:0~999μm;
0.01mm:1~10mm
1μm:0~999μm;
0.01mm:1~5mm;
0.1mm:5~20mm
精度(在平面上垂直测试)
0~3mm:±(5μm + 读取值的3%);
大于或等于3.01mm:±读取值的3%。
探针
单点接触恒压型,V形切口,φ20.4x47.1mm
单点接触恒压型,V形切口,φ35x55mm
配件
标准厚度,零度测试板(Fe)
测量物体
相对较厚的物体
厚重的物体

探针需单独订购。

    SWT(NFe探针)规格

    模型
    SNFe-2.0/2.0L
    方法
    涡流型
    范围
    0~2.00毫米
    显示分辨率
    1μm:0~999μm,
    切换至
    0.1μm:0~400μm,0.5μm:400~500μm,
    0.01mm:1.00~2.00mm
    精度(在平面上垂直测试)
    0~100μm:±1μm
    或读数的±2%;
    101μm~2.00mm:±2%
    探针
    单点接触恒压型,V型切口
    2.0:φ15 x 47mm 2.0L:18 x 22 x 67mm
    V型探针适配器/非
    配件
    标准厚度,零板测试用(NFe)
    测量物体
    在铝、铜等非磁性金属基材上制备绝缘薄膜
    相对通用的物品

    探针需单独订购。

    1. ※V 型探头适配器(3 种:小于 Φ5、Φ5~10、Φ10~20)可与 SNFe-2.0 配合使用。

    模型
    SNFe-0.6
    SNFe-8
    方法
    涡流型
    范围
    0~600μm
    0~8毫米
    显示分辨率
    1μm:0~600μm
    切换至
    0.1μm:0~400μm
    0.5μm:400~500μm
    1μm:0~999μm;
    0.01mm:1~8mm
    精度(在平面上垂直测试)
    0~100μm:±1μm
    或读数的±2%;
    101μm~600μm:±2%
    0~3mm:±(5μm + ±3%读取值);
    大于或等于3.01mm:±3%读取值
    探针
    单点接触恒压型,V形切口,Φ13×45.5mm
    单点接触恒压型,V形切口 φ35×59mm
    配件
    标准厚度,零板测试用(NFe)
    测量物体
    在铝、铜等非磁性金属基材上制备绝缘薄膜
    例如铝、铜等材料,具有很高的稳定性,适用于细棒、管材和微型零件。
    相对较厚的物体