膜厚计探头
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- 膜厚计探头
- SFe-10
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- 电询
产品详细介绍
类型名称
SFe-10
SFe-20
测量方法
电磁感应
测量范围
0-10mm
0-20mm
显示分辨率
1μm：0～999μm
0.01mm：1～10mm
0.01mm：1～10mm
1μm：0～999μm
0.01mm：1～5mm
0.1mm：5～20mm
0.01mm：1～5mm
0.1mm：5～20mm
测量精度
（垂直于光滑表面测量）
（垂直于光滑表面测量）
0～3mm：±（5μm+示值的3%）
3.01mm以上：示值的±3%以内
3.01mm以上：示值的±3%以内
探测
1点定压接点式，
φ20.4×47.1mm带V切
φ20.4×47.1mm带V切
1点定压接点式，
φ35×55mm带V切
φ35×55mm带V切
配件
标准板、测试用零板（铁用）
测量对象
用于测量铁、钢等磁性金属基体上较厚的物体
用于测量铁和钢等磁性金属基体上的厚物体