膜厚计_产品中心_SANKO山高电子研究所主要产品：SANKO山高膜厚计，SANKO山高水分计，SANKO山高针孔检测设备，SANKO山高试验器，SANKO山高探知器等产品。中国总代理：深圳市京都玉崎电子有限公司

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膜厚计

型号：SF-3
名称：SF-3分光干涉式晶片厚度测量仪
型号：FE-300NIR
名称：FE-300NIR膜厚仪
型号：FE-300UV
名称：FE-300UV膜厚仪
型号：FE-300V
名称：FE-300V膜厚仪
型号：OPTM-A3
名称：OPTM-A3显微分光膜厚仪
型号：OPTM-A2
名称：OPTM-A2显微分光膜厚仪
型号：OPTM-A1
名称：OPTM-A1显微分光膜厚仪
型号：OP-A3
名称：OP-A3显微分光膜厚仪
型号：OP-A2
名称：OP-A2显微分光膜厚仪
型号：OP-A1
名称：OP-A1显微分光膜厚仪
型号：FE-3700
名称：FE-3700反射式膜厚测量仪
型号：FE-3000L
名称：FE-3000L反射式膜厚测量仪
型号：FE-3000
名称：FE-3000反射式膜厚测量仪
型号：FE-5700
名称：FE-5700椭圆偏光膜厚测量仪
型号：FE-5600
名称：FE-5600椭圆偏光膜厚测量仪
型号：FE-5500
名称：FE-5500椭圆偏光膜厚测量仪

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