SANKO山高研究所 电磁薄膜测厚仪原理

该装置包含一个带有电磁铁的探针，该探针与待测表面接触。当电流通过电磁铁时，会产生电磁感应，吸引薄膜背后的磁性材料。线圈的电压会随着电磁铁与磁性材料之间距离的变化而变化，利用这一点即可测量薄膜厚度。

与需要从两侧夹紧的卡尺不同，电磁薄膜测厚仪甚至可以测量目测无法测量的微小厚度。此外，电磁薄膜测厚仪能够即时、准确地测量厚度，并且操作简便，任何人都可以使用。

只有当基材是磁性材料（例如金属）且被测物体为非磁性材料时，才能测量厚度。例如，非磁性金属镀层、油漆和树脂涂层。另一方面，如果薄膜下方的材料是非磁性的，或者物体表面不平整，则无法进行精确测量，因为电磁铁需要与表面紧密接触。