SANKO山高   Quintsonic T 超声波薄膜厚度计

SANKO山高 Quintsonic T 超声波薄膜厚度计 product

首页 > 产品中心 > 膜厚计 > SANKO山高 Quintsonic T 超声波薄膜厚度计

SANKO山高 Quintsonic T 超声波薄膜厚度计

简要描述: SANKO山高 Quintsonic T 超声波薄膜厚度计

  • 产品型号:
  • 发布时间:2026-01-31

详细介绍

SANKO山高   Quintsonic T 超声波薄膜厚度计


特征

对多达八层多层油漆涂层中每层涂层的厚度进行无损测量

塑料、玻璃纤维增强塑料 (GRP)、碳化塑料 (CRP) 和金属涂层;木材和中密度纤维板 (MDF) 涂层;玻璃、陶瓷和共挤塑料薄膜层的涂层

得益于我们专有的数字传感器技术 SIDSP 的应用,精度和重复性均得到提升。

A-Scan 评估软件直接显示在平板电脑屏幕上

对于测量值的数据管理,数据可以以 Excel 格式输出,测量报告可以以 PDF 格式创建。

规格

测量方法
超声回波反射法
测量范围
356微米、890微米、1900微米、3900微米、7500微米(当所有层中的声速为2375米/秒时)
最小可测量薄膜厚度
每层厚度约为 10 微米(具体厚度取决于材料的声速)。
测量精度(垂直于平面测量)
±(1μm + 读数的 1%)
测量值存储器
总计约25万件商品
计量单位
微米、毫米、密耳
最小测量面积
11毫米
最低分辨率
0.1微米
批次数量
最多 300
统计显示功能
测量次数、最小值、最大值、平均值、标准差、变异系数、区组统计量、组统计量、点统计量
电源
1200mAh
工作温度
5至50°C(无冷凝)
尺寸
10.1英寸液晶显示屏
重量
1.1公斤