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SANKO山高 薄膜厚度计探头测量支架

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SANKO山高 薄膜厚度计探头测量支架

简要描述： SANKO山高 薄膜厚度计探头测量支架

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  • 发布时间：2026-01-31
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详细介绍

SANKO山高   Quintsonic T 超声波薄膜厚度计

特征

可以对同一点施加恒定的力，从而实现稳定的测量。

兼容探头：SWT系列、CTR、Pro、Mini Test等。（详情请联系我们）

用法

规格

尺寸
120（宽）× 200（深）× 280（高）毫米
重量
约1.6公斤


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