SANKO山高 UDM-1100超声波测厚仪

SANKO山高 UDM-1100超声波测厚仪 product

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SANKO山高 UDM-1100超声波测厚仪

简要描述: SANKO山高 UDM-1100超声波测厚仪

  • 产品型号:
  • 发布时间:2026-01-31

详细介绍

SANKO山高 UDM-1100超声波测厚仪

特征

一键即可轻松测量。提供多种探头(适用于厚板和延迟线)。

通过测量声速可以进行产品材料管理和识别。

测量方法
脉冲反射型
测量范围
1毫米至50.0毫米(标准FRP)
*模式自动切换……标准模式1至25毫米,
          厚板模式5至50毫米
误差范围
±0.1毫米至±0.25毫米
声速调节范围
500 至 9999 米/秒
探测
4708 型 2C15N-DL
电源
1节AA碱性电池(1.5V)
机器尺寸
主机尺寸:66(宽)x 140(高)x 28(深)毫米
重量
290克
探测
4708 型 2C15N-DL(标准型)
4705 型 1C20N-DL(适用于厚板)
DL530 延迟线(适用于厚板)