首页
> 产品中心
> 膜厚计
> SANKO山高薄膜厚度计 铅笔划痕测试仪
产品展示
product详细介绍
SANKO山高 UDM-1100超声波测厚仪
特征
本测试仪通过使用已知硬度的铅笔芯在涂层上划痕,并测定划痕程度,来评估涂层的硬度和附着强度(阻力、塑性变形、内聚破坏等)。它
具有多种标准化测试条件的功能,使其易于使用和操作。
符合JIS K5600-5-4、ISO/DIS 15184和ASTM 3363标准。
深圳市京都玉崎电子有限公司
yyf@tamasaki.com
深圳市龙华新区梅陇路906号电商集团3楼整层
微信二维码
版权信息