SANKO山高 Microtest永磁体薄膜厚度计

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SANKO山高 Microtest永磁体薄膜厚度计

简要描述: SANKO山高 Microtest永磁体薄膜厚度计

  • 产品型号:
  • 发布时间:2026-01-31

详细介绍

SANKO山高 Microtest永磁体薄膜厚度计

特征

简单易用,无需调整。

适用于现场利用磁力进行操作,无需电源。

用法

适用于一般涂层(钢基材上的非磁性涂层)

测量范围
・G-6...0~100μm
・F-5, F-6...0~1000μm
・S5-6...0.5~5mm
・S10-6...2.5~10mm
工作温度
-20 至 100°C(无冷凝)
机器尺寸
218(宽)× 55(高)× 25(深)毫米
重量
250克
配件
收纳盒
评论
还有一种专门用于镀镍的“NiFe50-6”。