SWT-9000F膜厚计

测量范围

0 ~ 2.50毫米

表示分辨率

1μm：0～999μm

切换0.1μm：0 ~ 400μm

0.5μm：400～500μm

0.01毫米：1.00〜2.50毫米

测量精度

均匀方面对

0 ~ 100μm：±1μm或指示值的±2 %

101μm〜2.50毫米：±2%以内

表示方式

CD数码表示

内存

标准曲线×1

探针

一点恒压接触式，V切割付，φ13毫米×48

电源

单3电池（1.5 V）×2自动パワーオフ

使用温度

0 ~ 40℃（不得结露）

尺寸重量

72（W）×30（H）×156（D）毫米，约270克

附件

标准厚板，考试用零板、收纳盒