双型膜厚仪
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- 双型膜厚仪
- SANKO山高
- SWT-NEOⅢ
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- 电询
产品详细介绍
特征
可根据测量应用选择连接探头。
操作步骤作为指南显示在 LCD 屏幕上。
大容量测量值存储器（NEO II：20,000 点，NEO III：40,000 点）。
通过校准曲线注册轻松调用测量
内置上下限值设定及统计计算功能。
数据可以通过 USB 连接传输到 PC。
内置专用低功耗无线输出（NEO-III）。
倾斜支架
规格
测量范围
取决于连接探头（单独出售）
显示方式
图形液晶显示器
校准曲线校准
2点校准
校准曲线内存
NEO-Ⅱ：10
NEO-Ⅲ：100
NEO-Ⅲ：100
测量记忆
NEO-Ⅱ：20,000点
NEO-Ⅲ：40,000点
NEO-Ⅲ：40,000点
数据传输
USB、特定低功率无线电 (NEO-III)
电源
3 节 AA 碱性电池 (1.5V) × 2 连续使用时间 (25 小时*) 带
AC 适配器自动关机功能 *最大值（可能因使用条件而异。）
AC 适配器自动关机功能 *最大值（可能因使用条件而异。）
工作温度
0 至 40°C（无冷凝）
机身尺寸
72(W)×30(H)×156(D)mm
重量
约200g（含电池）
配件
电池、便携硬盒、手带线、保修卡和用户登记
表、使用说明书（包含在驱动光盘中）、AC适配器、USB传输线、驱动光盘
表、使用说明书（包含在驱动光盘中）、AC适配器、USB传输线、驱动光盘
探测
请根据被测母材选择。
选项
专用打印机单元 (SWT-NEO III ) 用于探针
、铁基体 (Fe)
、非铁基体 (NFe)、
铁基体和非铁基体 (FN-325 )
、铁基体 (Fe)
、非铁基体 (NFe)、
铁基体和非铁基体 (FN-325 )