自动识别与测量 双型膜厚仪
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- 自动识别与测量 双型膜厚仪
- SWT-NEO-FN
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产品详细介绍
规格
测量范围
铁基：0-3.00mm
非铁基：0-2.50mm
非铁基：0-2.50mm
显示方式
LCD数字，显示保持
显示分辨率
1μm：0～999μm
切换
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm 0.01mm
：铁基（1.00～3.00mm）
有色金属基（1.00～2.50mm）
切换
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm 0.01mm
：铁基（1.00～3.00mm）
有色金属基（1.00～2.50mm）
测量精度
均匀表面上的 0 至 100 μm：±1 μm（铁和非铁）
或指示值的 ±2% 以内
101 μm 至 3.00 mm：±2% 以内（铁基）
101 μm 至 2.50 mm：± 2%（有色金属材料）
或指示值的 ±2% 以内
101 μm 至 3.00 mm：±2% 以内（铁基）
101 μm 至 2.50 mm：± 2%（有色金属材料）
校准曲线内存
黑色金属和有色金属各一个
电源
AA 碱性电池 (1.5V) × 2 连续使用时间 (25 小时*) 带自动关机功能的
AC 适配器（可选） *最大值（可能因使用条件而异）
AC 适配器（可选） *最大值（可能因使用条件而异）
工作温度
0 至 40°C（无冷凝）
机身尺寸
72(W)×30(H)×156(D)mm
重量
约200g（含电池）
配件
标准厚度板、测试用调零板、干电池、收纳盒、手带绳、保修和用户登记表、使用说明书
探测
1点定压接点式，带V型切口，φ15×50.9mm
评论
还有一种具有记忆和统计功能的高性能SWT-NEO II型。